iPhone 6 Plus发现新质量问题 恐全面回收

2014年11月05日    来源: 中国日报

  据中国日报官方微博消息,【iPhone6Plus恐全面回收】iPhone6Plus传出储存功能出包,手机系统会发生崩溃、不断重开机等现象。若属实,苹果很可能会全面召回iPhone6Plus手机。《AppleInsider》上个月就曾报道,iPhone6Plus只要使用者安装超过700项应用程式后,手机系统就会发生问题不断重新开机。

  另据香港文汇网讯,iPhone6Plus传出储存功能出包,手机系统会发生崩溃、不断重开机等现象。若情况属实,苹果(AppleInc.)很可能会全面召回iPhone6Plus手机。

  据中评社援引自由时报网消息,《AppleInsider》上个月就曾报道,iPhone6Plus只要使用者安装超过700项应用程式(App)後,手机系统就会发生问题,不断重新开机。有不少使用者都发生上述的情况,其中以128GB的机种情况最严重。

  根据韩国媒体《BusinessKorea》昨日报道,苹果很有可能为了减少大尺寸、大容量机款的成本,选择了稳定度较差的NAND快闪记忆体,其中的控制IC很有可能就是罪魁祸首。

  报道指出,苹果所采用的快闪记忆体为三阶储存单元(TLC),是一种固态的NANDFlash,每一个快闪媒介单元都能储存3位元的资料,其容量较单阶储存单元(SLC)、多阶储存单元(MLC)多上2到3倍,资料运算速度却不如SLC或MLC,因而价格也比较便宜。

  据了解,苹果为节省成本,在苹果大尺寸新机、最大容量的机款128GBiPhone6Plus与其它部分机种,采用了TLCflash。过去iPhone手机通常都使用稳定度较高、但价格也较贵的MLCflash,而TLCflash只会用在部分iPad机种上。

  有业界人士认为,若最後发现TLCflash真的是导致6Plus系统当机原因,苹果很有可能会全面收回6Plus手机。

 

 

[责任编辑: 叶剑锋 ]
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